據(jù)不同直徑的測量盤，當(dāng)鋪盤厚度達(dá)到放射性射線的有效飽和厚度時，對應(yīng)的取樣量為鋪盤量的“最小取樣量”，此鋪樣方法即為厚源法。
1 方法原理
緩慢將待測樣品蒸發(fā)濃縮，轉(zhuǎn)化成硫酸鹽后蒸發(fā)至干，然后置于馬弗爐內(nèi)灼燒得到固體殘?jiān)?zhǔn)確稱取不少于“最小取樣量”的殘?jiān)跍y量盤內(nèi)均勻鋪平，置于低本底a、B測量儀上測量總B的計數(shù)率，以計算樣品中總B的放射性活度濃度。
2 分析步驟
2.1儀器本底的測定
取未使用過、無污染的測量盤(67)，洗滌后用酒精浸泡1h以上，取出、烘干，置于低本底a、B測量儀(61)上連續(xù)測量儀器的總B本底計數(shù)率8h~24h，確定儀器本底的穩(wěn)定性，取平均值，以計數(shù)率RO(s-1)表示。
2.2有效飽和厚度(最小鋪盤量)的確定實(shí)際測量:分別稱取80mg 100mg 120mg 140mg 160mg 180mg 200mg、220mg240mg的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)(5.6)于測量盤內(nèi)，按樣品源的制備(7.2.4)相同步驟，制成不同厚度的系列標(biāo)準(zhǔn)源，均勻平鋪在測量盤底部，晾干后，置于低本底a、B測量儀(6.1)上測量每個標(biāo)準(zhǔn)源的總B計數(shù)率。以總B凈計數(shù)率為縱坐標(biāo)，鋪盤量為橫坐標(biāo)，繪制B自吸收曲線。當(dāng)鋪盤量達(dá)到一定的值時，總B凈計數(shù)率不再隨鋪盤量的增加而增加，延長自吸收曲線的斜線段與水平段，交叉點(diǎn)對應(yīng)的鋪盤量即為標(biāo)準(zhǔn)源的有效飽和厚度，也就是方法的最小鋪盤量。
理論估算:如果有效飽和厚度測量有困難，可直接按0.1Amg計算。http://www.www.x42wfg.com
